Ram Stress Test RST详细使用图文教程

来源:本站整理 作者:U盘量产网

RST内存检测软件使用说明

(R.S.T )UX版
以下是内存测试软件的界面图:
Ram Stress Test RST详细使用图文教程
 

0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF

12345678

Ram Stress Test是美国Ultra-X公司旗下的一个专业记忆体测试程式,是专门给系统生产厂商出机前用的测试程式,他其实是从其他的产品独立出来的一项测试,该 公司专作系统测试的软硬体,方便生产厂商将产品做详细测试,至于R.S.T.在目前记忆体生产业使用非常普遍,因为经过他的测试几乎就能应付大部分的记忆 体问题,所以是非常好用的一个测试工具!!

  使用非常简易,只要设定为软碟开机就行了,他是一个独立开发的系统,没有依附任何作业系统,相容于x86系列,只要BIOS认的到的容量他都能测!!

 发现 ATS 选项错误,在BIOS中,记忆体选项设成Auto时,记忆体的CL=2,改成Manual,自设CL=2.5时,上述选项才能通过。vmavzk
附件IMZ需要用winImage展开到软盘上,然后用此软盘启动系统。
附件NRG是用Nero烧录可启动光盘的软盘镜像文件。
程序执行后,第一选项是测试物理内存中基本内存地址(<640K),第二项是扩展内存地址,第三项是测试你CPU的L2 cache。

☆ 可以测试SD及DDR内存。
☆ 闪动数字——0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF
依次代表内存条的8颗颗粒。
从左到右横着数:0-7代表第1颗粒区域、8-F代表第2颗粒、0-7代表第3颗粒、8-F代表第4颗粒、0-7代表第5颗粒代、8-F代表第6颗粒、0-7代表第7颗粒、8-F代表第8颗粒vmavzk
☆ 点不亮内存的测试方法——很多内存短路或者颗粒损坏后都不能点亮,点不亮的可以用一根好的内存去带动它(可解决部分点不亮问题)。必须SD的带SD的,DDR的带DDR的。本软件会自动跳过好的去检测坏的那根。
☆ 发现 ATS 选项错误,在BIOS中,记忆体选项设成Auto时,记忆体的CL=2,改成Manual,自设CL=2.5时,上述选项才能通过。
☆ 程序执行后,第一选项是测试物理内存中基本内存地址(<640K),第二项是扩展内存地址,第三项是测试CPU的 L2 cache。
vmavzk
RAM测试软件说明书
(R.S.T )UX版
闪动的一排测试数字代表内存8颗粒的测试情况。
从左至右,0-7代表第一区域,8-F代表第二区域;0-7代表第三区域,8-F代表第四区域;……依次代表内存条的8颗颗粒。

⒈DDR8位与16位的单面测法:
⑴. 0-7(1 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第1颗粒已经损坏
⑵. 8-F(2 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第2颗粒已经损坏
⑶. 0-7(3 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第3颗粒已经损坏
⑷. 8-F(4 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第4颗粒已经损坏
⑸. 0-7(5 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第5颗粒已经损坏
⑹. 8-F(6 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第6颗粒已经损坏
⑺. 0-7(7 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第7颗粒已经损坏
⑻. 8-F(8 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第8颗粒已经损坏
注意DR的颗粒排列循序是1-2-3-4-5-6-7-8
⒉如果你是128M的双面DDR内存,如以上显示界面图:

1-16M ------------------------------------------------------------------------------------------------------------
16-32M -------------------------------------------------------------------------------------------------------
32-48M ------------------------------------------------------------------------------------------------------------

48-64M-------------------------------------------------------------------------------------------------------------
从1M到64M的上面的4根虚线上出现乱码的话,说明这根内存的的第一面的颗粒有问题(判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明)
64-80M -----------------------------------------------------------------------------------------------------------
80-96M -------------------------------------------------------------------------------------------------------
96-112M------------------------------------------------------------------------------------------------------------

112-128M----------------------------------------------------------------------------------------------------------
从64M到128M的上面的4根虚线上出现乱码的话,说明这根内存的的第二面的颗粒有问题(判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明)

注意:在内存的PCB板上的两边标着1与92的代表第一面,93与184的代表第二面。1-128M的8根虚线是用来区分两面区域的作用.

⒊SD的8位与16位的单面测法:
⑴. 0-7(1)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第8颗粒已经损坏
⑵. 8-F(2)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第4颗粒已经损坏
⑶. 0-7(3)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第7颗粒已经损坏
⑷. 8-F(4)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第3颗粒已经损坏

⑸. 0-7(5)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第6颗粒已经损坏
⑹. 8-F(6)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第2颗粒已经损坏
⑺. 0-7(7)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第5颗粒已经损坏
⑻. 8-F(8)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第1颗粒已经损坏
(注: PCB板上从1到84为第一面,颗粒的排列顺序从1到84为8-7-6-5-4-3-2-1,切记注意)
4.通过以上的介绍,说明SD的双面是跟DDR的是一样的。但是颗粒的好坏判断要按照
它们的排列循序来判断。
5.PCB板的短路或者虚焊的测法:如果在8根虚线上都出现乱码,说明这根内存的PCB板有问题
6.点不亮的内存的测试方法: 很多内存短路或者颗粒损坏后都不能点亮,点不亮的可以用一根好的内存去带动它。 必须SD的带SD的,DDR的带DDR的。本软件会自动跳过好的那根去检测坏的那根。
7.使用方法:先下载Ram Stress Test和ultraiso,然后准备U盘一个,插入U盘,用ultraiso把RST的RST442.NRG镜像制作成U盘启动盘,然后直接把U盘插入电脑,在主板的CMOS里设置U盘启动, 启动后本软件会自动引导到测试界面进行检测。

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